3.7.4　テスト容易化設計

合成，最適化

	定義のある用語	紹介だけの用語
（2） スキャン設計	スキャン設計（Scan Design）	スキャンパス（Scan Path）
	テスト容易化設計（Design-For-Testability）	LSSD（Level Sensitive Scan Design）
	完全スキャン設計（Full Scan Design）	RAS（Random Access Scan）
	部分スキャン設計（Partial Scan Design）	IEEE1149.1
	多重スキャン設計（Multiple Scan Design, Parallel Scan Design）
	境界スキャン（boundary scan）
（3） 非スキャン設計	非スキャン設計
	階層テスト生成
（4） テストデータの圧縮・展開	テストデータの圧縮（Test Compression）	イリノイスキャン（Illinois Scan）
		BAST（BIST Aided Scan Test）
		EDT（Embedded Deterministic Test）
（5） 組込み自己テスト	組込み自己テスト（Built-In Self-Test, BIST）	フェーズシフタ（Phase Shifter）
	テストパターン発生器（Pattern Generator）
	応答解析器（Response Analyzer）
	論理BIST
	線形フィードバックシフトレジスタ（LFSR, Linear Feedback Shift Register）
	MISR（Multiple Input Signature Register）
	リシーディング（Reseeding）
	シグネチャ（Signature）
	シグネチャ解析（Signature Analysis）
	ソフトウェアBIST（Software-Based Self-Test, Instruction-Based Self-Test）
（6） テスト容易化合成	テスト容易化合成（Synthesis For Testability）
（7） 高位テスト容易化設計	高位テスト容易化設計（High-Level Design-For-Testability）
	動作レベルテスト容易化設計（Behavioral Modification For Testability）