3.7.6 メモリのテスト

	定義のある用語	紹介だけの用語
（1） メモリの製造テスト	メモリの製造テスト
	組込み自己テスト（BIST, Built-In Self Test）
（2） メモリのテストアルゴリズム	メモリのテストアルゴリズム	マーチング（Marching）
	帰納的故障解析（IFA, Inductive Fault Analysis）	ウォーキング（Walking）
		ギャロッピング（Galloping）
（3） メモリの組込み自己テスト技術	BOST（Built-Out Self Test）
	パラレルBIST
	シリアルBIST
	プログラマブルBIST