3.7.7 アナログ／ミックスドシグナル系のテスト

	定義のある用語	紹介だけの用語
（1） テストの概要	アナログ／ミックスドシグナル回路（AMS回路）
（2） A/D コンバータ，D/Aコンバータのテスト	ADコンバータのテスト	ゲイン誤差
	DAコンバータのテスト	オフセット誤差
	量子化誤差
	非直線性誤差
	ヒストグラム法
（3） テスト容易化手法，テストインタフェース	テストインタフェース	インサーキットテスト（ICT）
	インターコネクションテスト（EXTEST）	自動外観検査（AOI）
	パラメトリックテスト	バウンダリスキャンテスト
	インピーダンス測定	JTAGテスト
	アナログプローブ	IEEE1149.4
	インテスト（INTEST）	IEEE1149.1