編主任 米田友洋（NII）
編幹事 金子敬一（東京農工大）
北神正人（千葉大）
福本 聡（首都大東京）
編幹事 金子敬一（東京農工大）
北神正人（千葉大）
福本 聡（首都大東京）
全体概要
概要
1-1 基礎概念
伊藤秀男（千葉大）
中村英夫（日大）
金川信康（日立）
中村英夫（日大）
金川信康（日立）
南谷 崇（東大）
概要
土屋達弘（阪大）
Xavier DEFAGO（北陸先端大）
林原尚浩（京産大）
林原尚浩（京産大）
泉 泰介（名工大）
Xavier DEFAGO（北陸先端大）
林原尚浩（京産大）
林原尚浩（京産大）
Xavier DEFAGO（北陸先端大）
林原尚浩（京産大）
林原尚浩（京産大）
FETZER, Christof（ドレスデン工科大学）
訳：林原尚浩（京産大）
訳：林原尚浩（京産大）
増澤利光（阪大）
土屋達弘（阪大）
福本 聡（首都大）
福本 聡（首都大）
浜口清治（阪大）
3-2 故障モデル （→10群1編3章3-7-1）
3-3 テスト方式 （→10群1編3章3-7-2）
3-4 テスト生成 （→10群1編3章3-7-3）
3-5 テスト容易化設計 （→10群1編3章3-7-4）
3-5-1 テスタビリティ解析
3-5-2 スキャン設計
3-5-3 非スキャン設計
3-5-4 テストデータの圧縮・展開
3-5-5 組込み自己テスト
3-5-6 テスト容易化合成
3-5-7 高位テスト容易化設計
3-6 システムオンチップのテスト （→10群1編3章3-7-5）
安藏顕一 （東芝）
三浦幸也（首都大）
三浦幸也（首都大）
亀山修一（富士通）
佐藤康夫（九工大）
益子洋治（大分大）
益子洋治（大分大）
<関連情報>